蛍光Ｘ線微少膜厚計

品物を破壊せずめっき膜厚を測定するために、蛍光Ｘ線微少膜厚計を使用します。原理は、まず物質にＸ線を照射すると、エネルギーを受け取ることで不安定な状態になります。すると、その余分なエネルギーをＸ線として放出し、物質は安定な状態に戻ります。この放出された固有Ｘ線のエネルギーや強さを測定することで、どんな皮膜がどれだけ付いているかに換算されます。